德国bruker x-射线荧光测厚仪
德国bruker x-射线荧光测厚仪 产品详情
m1—mistrial x-射线荧光镀层测厚仪
mistrial系列是一款简洁、坚固和可靠的质量控制xrf台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。
mistrial可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
主要特点包括：;
成本低、快速、非破坏的edxrf分析
可完成至多12层镀层（另加底材）和25个元素的镀层厚度测试，
的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素
使用广受推崇的能量色散x射线荧光（edxrf）技术, mistrial可实现如下测试要求：
符合iso3497标准测试方法：金属镀层——x射线光谱法测量镀层厚度
符合astm b568标准测试方法：x射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素
如需了解详细产品规格资料，烦请不吝来电！